专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于寄存代码自动生成的方法、设备、介质及系统-CN202310773767.7有效
  • 仇露青;周欢欢 - 芯耀辉科技有限公司
  • 2023-06-28 - 2023-10-13 - G06F8/30
  • 本申请提供用于寄存代码自动生成的方法、设备、介质及系统。方法包括:获取寄存信息、配置信息寄存间逻辑关系;基于寄存信息,调用例化寄存代码生成与寄存一一对应的寄存对象,以及,基于寄存间逻辑关系确定第一命名规则,用于规范化所生成的寄存对象各自的寄存名称的前缀和后缀;基于寄存对象各自的寄存名称的前缀和后缀,确定用于实现寄存相关联的逻辑功能的寄存对象之间的连接关系,然后利用寄存对象的连接关系、寄存对象和接口读写逻辑生成寄存相关联的寄存代码,其中接口读写逻辑基于配置信息生成如此有利于寄存代码的稳定性和提升自动化效率。
  • 用于寄存器代码自动生成方法设备介质系统
  • [发明专利]一种寄存测试的方法和系统-CN200710175434.5无效
  • 冯备战;游明琦;艾国;占文静 - 北京中星微电子有限公司
  • 2007-09-29 - 2008-02-27 - G11C29/00
  • 本发明公开了一种实现寄存测试的系统,该系统包括:设置模块,设置寄存属性与测试参数的对应关系;信息获取模块,获取每一个被测寄存寄存信息,所述寄存信息包含寄存属性;测试参数产生模块,从所述信息获取模块获取的寄存信息中得到寄存属性,产生与所述寄存属性对应的测试参数;执行模块,利用所述测试参数产生模块产生的所述测试参数,对所述被测寄存进行测试,得到被测寄存的测试结果。本发明还公开了寄存测试的方法,使用本发明能够降低寄存测试的工作量。
  • 一种寄存器测试方法系统
  • [发明专利]获取芯片代码信息的方法和装置-CN200910001370.6无效
  • 晏桂良;崔建荣;罗开昆;陈锋 - 华为技术有限公司
  • 2009-01-06 - 2010-07-07 - G06F9/45
  • 本发明实施例公开了一种获取芯片代码信息的方法和装置,属于电子设备领域。该方法包括:根据用户指令生成包括寄存信息寄存列表,该寄存信息包括寄存公共信息寄存参数信息,该寄存参数信息中的寄存名和域名根据指定的目标程序语言的命名规范命名,该寄存参数信息中的地址计算采用指定的目标程序语言可识别的表达式;读取该寄存信息;对该寄存信息进行合法性检查;当对该寄存信息检查合法时,对该寄存信息进行解析,生成该芯片代码信息。本发明实施例基于自动化生成芯片代码信息,可以降低开发成本,提高芯片的可靠性,加速芯片应用。
  • 获取芯片代码信息方法装置
  • [发明专利]测试装置及测试方法-CN200410034722.5无效
  • 黄伟 - 华为技术有限公司
  • 2004-04-26 - 2005-11-02 - G06F17/00
  • 本发明公开了一种测试装置及测试方法,其中测试装置包括数据库,存放嵌入式系统中的寄存手册信息;用户界面,用于输入测试命令及显示目标寄存寄存手册信息及目标寄存的当前值;桩模块,根据测试命令对目标寄存进行读或写操作并读出目标寄存的当前值;主控模块,接收用户界面的测试命令,转发给桩模块或/和根据测试命令调取数据库中目标寄存寄存手册信息,且将目标寄存的当前值或/和目标寄存寄存手册信息反馈给用户界面。相应地,本发明测试方法包括以下流程:读寄存流程;调取寄存手册信息流程;改写寄存流程。
  • 测试装置方法
  • [发明专利]寄存模型生成方法、装置、计算机设备及存储介质-CN202310273057.8有效
  • 黄威;孙宇豪;胡涛 - 湖北芯擎科技有限公司
  • 2023-03-21 - 2023-07-07 - G06F30/333
  • 本申请公开了一种寄存模型生成方法、装置、计算机设备及存储介质,方法包括:获取待验证芯片的多个寄存描述文件;获取多个寄存描述文件中每个寄存描述文件的文件格式,根据文件格式对每个寄存描述文件进行解析,得到各个主机的寄存映射信息及每个芯片设计模块的寄存描述信息;根据寄存描述信息,生成多个初始寄存块;根据各个主机的寄存映射信息及多个初始寄存块,生成各个主机对应的第一寄存映射表;根据多个初始寄存块及第一寄存映射表,生成待验证芯片对应的寄存模型。本申请可以支持多种文件格式的寄存描述文件的解析,自动化水平高,适用于设计中存在多个主机的待验证芯片的寄存模型生成。
  • 寄存器模型生成方法装置计算机设备存储介质
  • [发明专利]寄存配置方法、装置及相关设备-CN202210520414.1在审
  • 谢莹;牛萍;艾阳阳;王聪 - 海光信息技术股份有限公司
  • 2022-05-13 - 2022-08-09 - G06F9/445
  • 本发明实施例提供一种寄存配置方法、装置及相关设备,所述方法包括:获取待配置寄存的标识信息,所述标识信息包括所述待配置寄存所属模块的模块标识和寄存标识;查找对应所述模块标识的模块路径信息和对应所述寄存标识的内部路径信息,所述内部路径信息为所述待配置寄存在模块内的路径信息;基于所述模块路径信息和所述内部路径信息,合成所述待配置寄存的路径信息;根据所述待配置寄存的路径信息,配置所述待配置寄存。可以看出,本发明实施例在后门访问的基础上,通过待配置寄存的标识信息确定待配置寄存的路径信息,从而可以无需人工确认和逐一填写,缩短了初始化配置流程,提高了芯片验证迭代的效率。
  • 寄存器配置方法装置相关设备
  • [发明专利]一种CPU寄存信息的自动校验方法及装置-CN201710287287.4在审
  • 卢业勇 - 郑州云海信息技术有限公司
  • 2017-04-27 - 2017-09-01 - G06F11/22
  • 本发明提供了一种CPU寄存信息自动校验方法及装置,该方法包括预先设置读取脚本和校验脚本;所述校验脚本中包括至少一条正确的CPU寄存信息,其中,每个所述正确的CPU寄存信息对应一个待校验的CPU寄存;执行所述读取脚本,利用所述读取脚本读取每个所述待校验的CPU寄存中的待校验的CPU寄存信息;执行所述校验脚本,利用所述校验脚本,根据每个所述待校验的CPU寄存对应的所述正确的CPU寄存信息,校验每个所述待校验的CPU寄存对应的所述待校验的CPU寄存信息。本发明提供了一种CPU寄存信息自动校验方法及装置,能够提高校验的效率。
  • 一种cpu寄存器信息自动校验方法装置
  • [发明专利]一种基于寄存流程工具的设计验证芯片方法-CN202010027895.3有效
  • 何刚 - 何刚
  • 2020-01-10 - 2023-07-18 - G06F30/398
  • 本发明公开了一种基于寄存流程工具的设计验证芯片方法,该方法包括以下步骤:获取芯片寄存和中断的设计验证需求;将芯片各模块的中断信息寄存信息按照预先制定的规范填写到预先配置的寄存流程工具的入口XML集中,生成包含中断控制寄存文件;运行所述寄存流程工具;所述寄存流程工具自动根据XML集中信息将所述中断控制寄存一起集成到芯片寄存文件中;所述寄存流程工具配置有寄存块集成接口;将芯片寄存集成信息填入寄存流程工具的入口XML集中,生成验证及软件开发所需的寄存模型和寄存配置模板。本发明的有益效果为:能帮助芯片开发过程中非常方便地实现寄存相关的代码和文档。
  • 一种基于寄存器流程工具设计验证芯片方法

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